-Filmetrics光學(xué)膜厚測量?jì)x
簡(jiǎn)要描述：-Filmetrics光學(xué)膜厚測量?jì)x：F32的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤(pán)，加上附加的分光計，可達到四個(gè)不同的位置（EXR和UVX版本多兩個(gè)位置）。F32軟件可以通過(guò)數字I/O或主機軟件來(lái)控制啟動(dòng)/停止/復位測量。測量數據可以自動(dòng)導出到主機軟件中進(jìn)行統計過(guò)程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現有的生產(chǎn)裝置上。
產(chǎn)品型號：F32- 廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 更新時(shí)間：2024-07-24
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：3136
F32薄膜厚度測量?jì)x
在線(xiàn)測量的解決方案
使用F32可以簡(jiǎn)單快速地在線(xiàn)測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進(jìn)行分析可得到實(shí)時(shí)厚度信息。
F32的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤(pán)，加上附加的分光計，可達到四個(gè)不同的位置（EXR和UVX版本多兩個(gè)位置）。F32軟件可以通過(guò)數字I/O或主機軟件來(lái)控制啟動(dòng)/停止/復位測量。測量數據可以自動(dòng)導出到主機軟件中進(jìn)行統計過(guò)程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現有的生產(chǎn)裝置上。
包含的軟件和USB連接使得在任何windows平臺上安裝F32很簡(jiǎn)單。在測量軟件的幫助下，它預裝了100多種材料，使得單層和多層薄膜的測量很容易實(shí)現。通過(guò)測量樣品的光學(xué)常數或從現有的來(lái)源輸入數據，可以快速添加新材料。
選擇Filmetrics的優(yōu)勢
• 桌面式薄膜厚度測量
• 24小時(shí)電話(huà)，郵件和在線(xiàn)支持
• 所有系統皆使用直觀(guān)的標準分析軟件
附 加 特 性
• 嵌入式在線(xiàn)診斷方式
• 免費離線(xiàn)分析軟件
• 精細的歷史數據功能，幫助用戶(hù)有效地存儲，重現與繪制測試結果
