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- Flex-ANANanosurf AFM原子力顯微鏡
Nanosurf AFM原子力顯微鏡產(chǎn)品主要特點(diǎn): 高起伏樣品或多個(gè)樣品自動(dòng)納米機械性能分析 針對不同模型來(lái)測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度 智能軟件自主處理測量需求 樣品高度起伏大可達5mm,力譜曲線(xiàn)大范圍Z向可達100μm 分析軟件可用于大批量與復雜數據的輕松比對
- 型號:Flex-ANA
- 更新日期:2023-06-06 ¥面議
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- AFSEMNanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡AFM
Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡AFM產(chǎn)品主要特點(diǎn): 實(shí)時(shí)在您的真空環(huán)境中進(jìn)行AFM分析 方便集成在SEM中進(jìn)行相關(guān)AFM分析 兼容于大多數電鏡而不影響SEM正常操作 可適配真空腔室環(huán)境兼容大氣環(huán)境測量 操作簡(jiǎn)便而直觀(guān)
- 型號:AFSEM
- 更新日期:2023-07-24 ¥面議
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- Profilm3D光學(xué)3d表面輪廓儀
光學(xué)3d表面輪廓儀讓3D光學(xué)輪廓測量的價(jià)格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術(shù)。以很低的價(jià)格實(shí)現次納米級的表面形貌研究。
- 型號:Profilm3D
- 更新日期:2024-07-24 ¥面議
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- Zeta-388光學(xué)輪廓儀廠(chǎng)家
光學(xué)輪廓儀廠(chǎng)家 支持3D量測和成像功能,并提供整合隔離工作臺和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統,可實(shí)現全自動(dòng)測量。該系統采用ZDot技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數據和True Color(真彩)無(wú)限遠焦點(diǎn)圖像。Zeta-388具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統、簡(jiǎn)單易用的軟件、低擁有成本,以及SECS / GEM通信,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
- 型號:Zeta-388
- 更新日期:2024-07-24 ¥面議
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- Profilm3D光學(xué)表面輪廓儀
光學(xué)表面輪廓儀讓3D光學(xué)輪廓測量的價(jià)格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術(shù)。以低的價(jià)格實(shí)現次納米級的表面形貌研究。
- 型號:Profilm3D
- 更新日期:2024-07-24 ¥面議
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- Profilm3D光學(xué)輪廓儀
Profilm3D光學(xué)輪廓儀讓3D光學(xué)輪廓測量的價(jià)格變得更加能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術(shù)。以?xún)?yōu)勢的價(jià)格實(shí)現次納米級的表面形貌研究。
- 型號:Profilm3D
- 更新日期:2023-06-05 ¥面議
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- P-170臺階儀
P-170臺階儀是cassette-to-cassette探針式輪廓儀,可提供幾納米至一毫米的臺階高度測量功能,適用于生產(chǎn)環(huán)境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進(jìn)行2D和3D測量,其掃描可達200mm而無(wú)需圖像拼接。 P-170具有的圖案識別算法、增強的光學(xué)系統和的平臺,這了性能的穩定和系統間配方的無(wú)縫移植- 這是24x7生產(chǎn)環(huán)境的關(guān)鍵要求。
- 型號:P-170
- 更新日期:2023-07-24 ¥面議
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- P-17臺階儀
P-17臺階儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進(jìn)行2D和3D測量,其掃描可達200mm而無(wú)需圖像拼接。
- 型號:P-17
- 更新日期:2023-07-24 ¥面議